Relés MOSFET en miniatura para conmutación rápida en equipos de prueba

Los sistemas modernos de prueba y medición están siendo impulsados hacia mayor número de canales y ciclos de inspección más rápidos, especialmente en entornos de producción de semiconductores, 5G y robótica. Para responder a estas necesidades, OMRON Electronic Components Europe ha presentado nuevos relés MOSFET de la serie G3VM, orientados a diseños con alta densidad de montaje y conmutación de alta velocidad en equipos de prueba automáticos (ATE) y testers lógicos.

Más canales en hardware de prueba con espacio limitado
Los nuevos relés se alojan en un encapsulado S-VSON(L) de 2,0 mm × 1,45 mm y pesan menos de 0,01 g, lo que los hace adecuados para placas con restricciones de formato donde el tamaño del componente determina cuántos canales de conmutación pueden integrarse. OMRON los dirige a sistemas de prueba multicanal donde la densidad de canales es un factor de diseño clave.

Capacitancia y corriente de fuga optimizadas para precisión de medida
En trayectos de medida de alta frecuencia, la capacitancia parásita puede introducir acoplamientos no deseados y distorsionar señales entre canales adyacentes. Estos relés reducen la capacitancia pin a pin hasta 0,6 pF, facilitando la interfaz de alta velocidad en ATE y equipos de prueba lógica de altas prestaciones.

Para aplicaciones de medida sensibles, los relés especifican además una corriente de fuga de 1 nA, orientada a minimizar errores en adquisición de señales de bajo nivel y en configuraciones de prueba de alta precisión.

Tiempos de conmutación pensados para acortar ciclosde prueba
En plataformas de prueba, la velocidad de respuesta del relé influye directamente en el rendimiento por unidad verificada. Los nuevos relés MOSFET especifican tiempos de encendido/apagado de 0,08 ms y 0,12 ms, respectivamente, para acelerar la conmutación en rutinas secuenciales y reducir el tiempo total de ciclo.

OMRON ha lanzado variantes de 20 V y 40 V:

Todos ellos son relés tipo 1a (SPST-NO), una topología habitual en matrices de conmutación y encaminamiento de señales en instrumentación de prueba.

Sustitución de relés mecánicos en matrices compactas
Los dispositivos se presentan como los de menor capacitancia y resistencia dentro de la serie G3VM, con el objetivo de mejorar la respuesta de conmutación en aplicaciones de prueba de alta velocidad. Su formato ultraminiatura de 4 pines también facilita la sustitución de relés mecánicos por relés MOSFET, especialmente en matrices de conmutación densas empleadas en entornos de validación y producción donde la integridad de medida y el rendimiento impactan en la eficiencia de la cadena de suministro digital.

www.omron.com