Fotorrelés compactos para sistemas de prueba a alta temperatura

Los equipos de prueba automatizados y la electrónica automotriz requieren cada vez más componentes de conmutación compactos capaces de operar bajo elevadas cargas térmicas. En este contexto, Toshiba Electronics Europe GmbH presentó una nueva serie de fotorrelés diseñados para funcionamiento a alta temperatura y diseños de PCB con espacio limitado en aplicaciones de prueba y medición.

Abordando las limitaciones térmicas en la electrónica automotriz y de prueba
Los nuevos fotorrelés —TLP3407SRB, TLP3412SRB, TLP3412SRHB y TLP3412SRLB— están diseñados para operar a temperaturas de hasta 135 °C, superando el valor típico de 125 °C de dispositivos comparables. Esta tolerancia térmica permite su uso en entornos exigentes como sistemas de prueba de semiconductores automotrices, equipos de burn-in y placas electrónicas de prueba.

Estos entornos son cada vez más comunes debido al avance de la electrificación y el desarrollo de la conducción autónoma, que incrementan los requisitos de prueba para la electrónica de potencia y los semiconductores dentro del ecosistema de datos automotriz.

Los dispositivos están alojados en un encapsulado S-VSON4T con dimensiones aproximadas de 1,45 × 2,0 mm, lo que permite diseños de circuitos compactos cuando el espacio en la placa es limitado.

Simplificación del diseño de circuitos mediante componentes integrados
Los fotorrelés incorporan resistencias de entrada integradas, lo que permite el control directo por tensión sin necesidad de resistencias externas. Esto reduce el número de componentes y simplifica el diseño del PCB, además de liberar espacio para circuitería adicional.

El encapsulado compacto también permite el montaje de alta densidad, facilitando la integración de múltiples relés en diseños con espacio reducido sin afectar la fiabilidad de la conmutación. Esto resulta especialmente relevante en sistemas de prueba automatizados donde deben integrarse múltiples puntos de conmutación en áreas limitadas.

Características de conmutación para aplicaciones de medición
El TLP3407SRB admite una corriente nominal en estado activo de hasta 1 A. Los dispositivos relacionados —TLP3412SRB, TLP3412SRHB y TLP3412SRLB— ofrecen baja resistencia en conducción y tiempos de respuesta rápidos, características necesarias para aplicaciones de medición de precisión y conmutación automatizada.

Estas características eléctricas permiten su uso en aplicaciones donde se requieren comportamientos de conmutación estables y tiempos de respuesta previsibles para garantizar la precisión de los procedimientos de prueba.

Apoyo al desarrollo de sistemas electrónicos compactos
Al combinar mayor tolerancia térmica, componentes pasivos integrados y encapsulados compactos, la nueva serie de fotorrelés responde a las limitaciones de diseño de los sistemas electrónicos modernos.

Estos dispositivos están destinados a apoyar a los ingenieros de diseño en el desarrollo de plataformas electrónicas compactas y térmicamente robustas, especialmente en aplicaciones donde se requiere optimización del espacio en PCB y un rendimiento de conmutación fiable.

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Edited by industrial journalist, Aishwarya Mambet — AI-powered.